RC3175/RC2175
Low-e膜層(ceng)四點電阻(zu)測試儀(yi)
RC2175 | RC3175 | 單(dan)位 | |
量程 | 0-1999 | 0-199.9 | Ohms/square |
讀數(shu) | 1 | 0.1 | |
精(jing)度 | 3% | 0.9% |
國家玻璃質量監督檢測中心
地 址：河北省秦皇島市河北大街西段91號
郵 編：066004
電 話：0335-5911598
手 機：13633332990
傳 真：0335-8051865
E-mail：wanglixiang100@163.com
網 址：//rptm.com.cn
; 聯(lian)系人：王立祥(xiang)
