膜層探視儀AE3600

無損(sun)Low-e膜層探視儀。

幫(bang)助分辨Low-e膜(mo)層(ceng)位置(zhi)，以(yi)免安裝或者清洗時發生(sheng)錯(cuo)誤(wu)，可以(yi)在玻璃的包裝未拆除(chu)時測量。

            國家玻璃質量監督檢測中心
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